Programa Nacional de Microeletrônica – PNM – Design

                                                            Capacitação em Projeto de Circuitos Integrados Digitais

 

 

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  1. TUTORIAL

DFTAdvisor  para inserir scan chains em circuitos sequenciais, preparando-os para ATPG

via Fastscan.

 

  1. Utilizando o contador up-down ud_counter e o DFTAdvisor,  insira uma única scan-chain

      no circuito e gere os seguinte arquivos. Nota: para este exercício você vai precisar da biblioteca

      atglib.

 

    1. Uma versão do contador com full-scan: ud_counter_fs.v
    2. Um arquivo de procedimento de testes para  scan (a ser usado por Fastscan): ud_counter_fs.proc
    3. Um arquivo de informações para geração de testes (a ser usado  Fastscan): ud_counter_fs.dofile

 

  1. Utilizando o circuito combinacional do contador mod3  counter_3.v  e faça as seguintes operações.

 

 

Caixa de texto: x-a-0

 

 

(a)    Isole a parte combinacional do circuito em  counter3_comb.v e use Fastscan para calcular

                   um vetor de teste que cobre a falha mostrada. Anote o mesmo.

 

  1. Projete e simule um FF MUX-D. Dê a este o mesmo nome e sintaxe encontrado

no FF de scan  descrito em atglib.

 

 

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